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　　1.單探頭法

　　使用一個探頭兼作發(fā)射和接收超聲波探傷儀 的 探傷方法稱為單探頭法。單探頭法操作方便，大多數(shù)缺陷可以檢出，是目前最常用的一種方法。單探頭法探傷，對于與波束軸線垂直的片狀缺陷和立體型缺陷的檢出 效果最好。與波束軸線平行的片狀缺陷難以檢出。當(dāng)缺陷與波束軸線傾斜時，則根據(jù)傾斜角度的大小，能夠受到部分回波或者因反射波束金部反射在探頭之外而無法 檢出。

　　2.雙探頭法

　　使用兩個探頭(一個發(fā)射，一個接收)進行探傷儀 探傷的方法稱為雙探頭法。主要用于發(fā)現(xiàn)單探頭法難以檢縫的缺陷。 雙探頭又可根據(jù)兩個探頭排列方式和工作方式進一步分為并列式、交叉式、V型串列式、K型串列式、串列式等。

　　(1)并列式：兩個探頭并列放置，探傷時兩者作同步向移動。但直探頭作并列放置時，通常是一個探頭固定，另一個探頭移動，以便發(fā)現(xiàn)與探測面傾斜的缺陷。分割式探頭的原理，就是將兩個并列的探頭組合在一起，具有較高的分辨能力和信噪比，適用與薄試件、近表面缺陷的探傷。

　　(2)交叉式：兩個探頭軸線交叉，交叉點為要探測的部位，此種探傷方法可用來發(fā)現(xiàn)與探測面垂直的片狀缺陷，在焊縫探傷中，常用來發(fā)現(xiàn)橫向缺陷。

　　(3)V型串列式;兩探頭相對放置在同一面上，一個探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反射的回波剛好落在另一個探頭的入射點上。此種探傷方法主要用來發(fā)現(xiàn)與探測面平行的片狀缺陷。

　　(4)K型串列式：兩探頭以相同的方向分別放置于試件的上下表面上。一個探頭發(fā)射的聲缺陷反射，反射的回波進入另一個探頭。此種探傷方法主要用來發(fā)現(xiàn)與探測面垂直的片狀缺陷。

　　(5)串列式：兩探頭一前一后，以相同方向放置在同一表面上，一個探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射的回波，經(jīng)底面反射進入另一個探頭。此種探傷方法用來發(fā)現(xiàn)與探測面垂直的片狀缺陷(如厚焊縫的中間未焊透)。兩個探頭在一個表面上移動，操作比較方便，是一種常用的探測方法。

　　3.多探頭法

　　使用兩個以上的探頭成對地組合在～起進行探傷儀 探傷的方法，稱為多探頭法。多探頭法的應(yīng)用，主要是通過增加聲束來提高探傷速度或發(fā)現(xiàn)各種取向的缺陷。通常與多通道儀器和自動掃描裝置配合。