| 射線探傷是利用X射線、γ射線等電磁輻射檢測物體內(nèi)部缺陷的方法。
探傷儀 的種類很多下面是對射線探傷操作的介紹：
常用于探傷的射線有x光和同位素發(fā)布的γ射線，區(qū)分稱為x光探傷和γ射線探傷。當這些射線穿過(照耀)物質(zhì)時，該物質(zhì)的密度越大，射線強度削弱得越多，即射線能穿透過該物質(zhì)的強度就越小。此時，若用攝影底片接納，則底片的感光量就小;若用儀器來接納，取得的旗子記號就弱。
因而，用射線來照耀待探傷的零部件時，若其內(nèi)部有氣孔、夾渣等缺陷，射線穿過出缺陷的路子比沒出缺陷的路子所透過的物質(zhì)密度要小得多，其強度就削弱得少些，即透過的強度就大些，若用底片接納，則感光量就大些，就可以從底片上反映出缺陷垂直于射線傾向的平面投影;若用其它接納器也一樣可以用儀表來反映缺陷垂直于射線傾向的平面投影和射線的透過量。
由此可見，淺顯狀況下，射線探傷是不易發(fā)現(xiàn)裂紋的，或許說，射線探傷儀 對裂紋是不敏感的。因而，射線探傷對氣孔、夾渣、未焊透等體積型缺陷最敏感。即射線探傷適宜用于體積型缺陷探傷，而不適宜面積型缺陷探傷。
冷裂紋發(fā)生的啟事：被焊資料淬透性較大在冷卻過程中遭到人的焊接拉力后果時易裂開;焊接時冷卻速度很快氫來不及逸出而殘留在焊縫中，氫原子連絡成氫分子，以氣體外形進到金屬的纖細孔隙中，并組成很大的壓力，使部分金屬發(fā)生很大的壓力而構(gòu)成冷裂紋;焊策應力拉應力并與氫的析集中和淬火脆化還發(fā)作時易構(gòu)成冷裂紋。
避免辦法：焊前預熱，焊后遲緩冷卻，使熱影響區(qū)的奧氏體分化能在足夠的溫度區(qū)間內(nèi)進行，防止淬硬組織的發(fā)生，還有增添焊策應力的后果;焊接后實時進行低溫退火，去氫措置，消弭焊接時發(fā)生的應力，并使氫實時松散到外界去;選用低氫型焊條和堿性焊劑或奧氏體不銹鋼焊條焊絲等，焊材按禮貌烘干，并嚴肅清算坡口;增強焊接時的維護和被焊處外表的清算，防止氫的侵入;選用合理的焊接標準，采用合理的裝焊挨次，以改善焊件的應力外形。
射線對人體是有害的。探傷作業(yè)時，應遵守有關安全操作規(guī)程，應采取必要的防護措施。
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